Привет, Гость!
Навигацыя
Голосование
Ваши политические взгляды
Правые
Левые
Центристские
Другое

Исследователи из Positive Technologies

Исследователи из Positive Technologies

21 января '17




Исследователи из Positive Technologies утверждают, что новое поколение процессоров Intel уязвимы перед процедурой отладки по USB, которая позволяет получить полный контроль над системой. Начиная с процессоров Skylake (вероятно, уязвимость касается и Kaby Lake) все процессоры Intel серии U обладают интерфейсом отладки, доступным через порт USB 3.0. Исследователи отмечают, что взломщики могут использовать инструмент отладки для обхода мер безопасности, которые включают отложенную установку вредоносного кода. Взломщики также могут использовать уязвимость для слежения за пользователем и получения доступа к данным, либо даже перепрошить BIOS.
Исследователи из Positive Technologies
«Этот созданный производителем аппаратный механизм имеет хорошие цели, которые включают специальные возможности отладки аппаратной конфигурации и прочие варианты использования. Однако теперь этот механизм доступен также и взломщикам. Выполнение подобных атак не требует ресурсов Пентагона или даже специального оборудования», — отметили исследователи. Проблема кроется в интерфейсе отладки JTAG (Joint Test Action Group). Он работает ниже программного слоя, так что в случае проблем можно провести отладку ядра ОС, гипервизоров и драйверов. До процессоров Skylake отладка осуществлялась через специальный порт ITP-XDP на материнской плате, доступ к которому затруднителен. Переход на интерфейс Direct Connect Interface (DCI) посредством USB значительно упрощает доступ к нему взломщиков. Для того чтобы воспользоваться данной уязвимостью необходимо держать интерфейс DCI включённым. Однако, как правило, он включён по умолчанию. Если же это не так, то включить его можно разными способами.

Также смотрите: 





Похожие новости:
Добавить коментарий
Коментарии
Информация
Посетители, находящиеся в группе Гости, не могут оставлять комментарии к данной публикации.
Google+